環(huán)境應力篩選（ESS）

發(fā)現(xiàn)和排除不良元器件、制造工藝和其他原因引入的缺陷造成的早期故障。

主要適用于電子產(chǎn)品,也可用于電氣、機電、光電和電化學產(chǎn)品。

產(chǎn)品的研制階段、生產(chǎn)階段和大修過程。

可靠性研制試驗（RDT）

尋找產(chǎn)品中的設計缺陷，以改進設計，提高產(chǎn)品的固有可靠性水平。

電子產(chǎn)品、電氣、機電、光電和電化學產(chǎn)品和機械產(chǎn)品。

產(chǎn)品的研制階段的早期和中期。

可靠性增長試驗（RGT）

暴露潛在缺陷并采取糾正措施，逐步使產(chǎn)品的可靠性達到規(guī)定的要求。

電子產(chǎn)品、電氣、機電、光電和電化學產(chǎn)品和機械產(chǎn)品。

產(chǎn)品的研制階段中期，產(chǎn)品的技術狀態(tài)大部分已經(jīng)確定。

可靠性鑒定試驗（RQT）

驗證產(chǎn)品的設計是否達到規(guī)定的可靠性要求。

電子產(chǎn)品、電氣、機電、光電和電化學產(chǎn)品和成敗型產(chǎn)品。

產(chǎn)品設計確認階段，產(chǎn)品通過ESS、環(huán)境鑒定試驗之后，技術狀態(tài)已經(jīng)固化。

可靠性驗收試驗（RAT）

驗證批生產(chǎn)的產(chǎn)品可靠性是否保持在規(guī)定的水平。

電子產(chǎn)品、電氣、機電、光電和電化學產(chǎn)品和成敗型產(chǎn)品。

產(chǎn)品批生產(chǎn)階段。

壽命試驗（LT）

驗證產(chǎn)品在規(guī)定的條件下的使用壽命、儲存壽命是否達到規(guī)定的要求。

有使用壽命、儲存壽命要求的各類產(chǎn)品。

產(chǎn)品設計定型階段。產(chǎn)品通過環(huán)境鑒定試驗之后，技術狀態(tài)已經(jīng)固化。